Научным сотрудникам Института физики полупроводников имени Ржанова из Новосибирска удалось создать объект, который станет эталоном для измерения наноматериалов. Как сообщил «Интерфаксу» старший научный сотрудник института Сергей Косолобов, он с коллегами создал «эталонный объект, его зарегистрировали в Государственном реестре средств измерений РФ, он используется, в частности, производителями силовых микроскопов. Это эталон высоты». Ученый объяснил, что в условиях сверхвысокого вакуума им удалось получить поверхности размером от 10 до 300 микрон с предельной на данный момент гладкостью. Так, шероховатости на этих поверхностях равны «высоте» одного атома кремния, а высота одной атомной «ступени» всегда одинакова — 0,3 нанометра. Однако технологии позволяют построить шероховатости высотой от одной до нескольких сотен атомных ступеней. «Если мы соберем 10 таких ступеней, мы получим стандарт высоты размером 3 нанометра и так далее. На данный момент в мире таких стандартов, меньших, чем 90—100 нанометров, нет», — рассказал Косолобов. По его словам, это достижение российских учёных очень важно для калибровки приборов. Эталон был создан с помощью электронного микроскопа, значительно усовершенствованного сотрудниками института. Они встроили в прибор сверхвысоковакуумную камеру. Как объяснил Косолобов, камера позволяет исключить помехи, связанные с влиянием окружающей атмосферы на исследуемый образец поверхности, и изучать его на атомном уровне.